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產(chǎn)品名稱(chēng):
赫爾納供應德國NanoFocus三維激光掃描儀
產(chǎn)品時(shí)間:
2023-04-27
產(chǎn)品型號:
µscan CLM-FC
產(chǎn)品報價(jià):
15200
產(chǎn)品特點(diǎn):
赫爾納供應德國NanoFocus三維激光掃描儀NanoFocus三維激光掃描儀直觀(guān)的測量和控制軟件 µsoft metrology FC 保證了測量的高效進(jìn)行。借助 µsoft Metrology,可以從一個(gè)用戶(hù)界面方便地控制傳感器和全景相機。
  µscan CLM-FC赫爾納供應德國NanoFocus三維激光掃描儀的詳細資料:

赫爾納供應德國NanoFocus三維激光掃描儀

赫爾納供應德國NanoFocus三維激光掃描儀

赫爾納貿易優(yōu)勢供應,德國總部直接采購,近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品,支持選型,為您提供一對一好的解決方案:貨期穩定,快速報價(jià),價(jià)格優(yōu),在中國設有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù).

公司簡(jiǎn)介:

1994 年以來(lái),NanoFocus AG 一直致力于開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售用于工業(yè)和實(shí)驗室的光學(xué) 3D 表面測量技術(shù)。工業(yè)用 3D 共聚焦顯微鏡,用于分析技術(shù)表面,配備µsurf 測量系統。伴隨著(zhù)不斷的進(jìn)一步發(fā)展,這些和其他 NanoFocus 技術(shù)是工業(yè)表面測量技術(shù)。

NanoFocus三維激光掃描儀主要產(chǎn)品:

NanoFocus三維激光掃描儀

NanoFocus三維激光掃描儀產(chǎn)品型號:

µscan CLM-FC

µsoft Metrology

NanoFocus三維激光掃描儀產(chǎn)品特點(diǎn):

µscan CLM-FC 系列的測量設備還可用于檢測密封材料和涂層中小的裂縫和缺陷,并檢查氣體擴散層 (GDL) 的孔隙率和缺陷。具有測量范圍的高細節度,共焦多通道傳感器的方法可實(shí)現動(dòng)態(tài)掃描長(cháng)度。

NanoFocus三維激光掃描儀產(chǎn)品應用:

NanoFocus三維激光掃描儀scan CLM-FC(燃料電池),燃料電池的生產(chǎn)相關(guān)和非破壞性表面分析,使用快速的全表面 3D 掃描,可以在臨近生產(chǎn)時(shí)以高精度檢查工具和雙極板(石墨或金屬)的表面質(zhì)量。

NanoFocus三維激光掃描儀與傳統測量方法(例如激光掃描顯微鏡)相比的優(yōu)勢:明顯更大的測量范圍。進(jìn)給軸的行程動(dòng)態(tài)決定掃描長(cháng)度。結合行程范圍可達 0.5 m 的可靈活配置的軸系統,該方法還可以測量大型雙極板和重型工具。如果需要,全表面掃描輪廓儀可以與高分辨率 3D 顯微鏡結合使用。這種共焦光學(xué)測量系統可以根據標準對 3D 粗糙度進(jìn)行詳細評估。

NanoFocus三維激光掃描儀直觀(guān)的測量和控制軟件 µsoft metrology FC 保證了測量的高效進(jìn)行。借助 µsoft Metrology,可以從一個(gè)用戶(hù)界面方便地控制傳感器和全景相機。在傳感器或全景相機之間切換時(shí),測量頭會(huì )自動(dòng)移動(dòng)到定義的測量位置。幾秒鐘后獲得具有強度疊加的測量結果的有意義的 3D 表示。

NanoFocus三維激光掃描儀表面分析軟件 µsoft analysis FC 提供的功能包,用于顯示和分析結構、粗糙度、波紋度、臺階高度、輪廓和其他表面特征。

NanoFocus三維激光掃描儀在直觀(guān)的多語(yǔ)言用戶(hù)界面中,按一下按鈕創(chuàng )建復雜的分析報告。NanoFocus三維激光掃描儀剖面圖、3D 重建或反射圖像等多種顯示選項可創(chuàng )建有意義的測量報告。用戶(hù)可以輕松創(chuàng )建和實(shí)施個(gè)人評估方案。該軟件包含過(guò)濾功能,并根據 ISO 25178、ISO 4287、ISO 13565 EN 15178 提供的標準參數。如果需要,NanoFocus 還可以創(chuàng )建單獨的插件以進(jìn)一步處理測量數據。

NanoFocus三維激光掃描儀3D光學(xué)輪廓儀1個(gè)2個(gè)3個(gè),MarSurf CP/CL 選擇,2D / 3D 輪廓測量,MarSurf CP MarSurf CL select是光學(xué)輪廓儀,可用于測量和分析二維和三維表面——非接觸式、與材料無(wú)關(guān)且快速。

NanoFocus三維激光掃描儀它們的特點(diǎn)是同時(shí)具有高測量精度的大測量區域的極快檢測。 由于采用模塊化設計,測量系統可以適應各種測量任務(wù)以及對自動(dòng)化、測量舒適度和準確性的個(gè)性化要求。根據測量任務(wù)的不同,可以靈活選擇不同的傳感器。軸系統和軟件模塊可以單獨組合。

NanoFocus三維激光掃描儀MarSurf CP CL選擇您對自動(dòng)化、測量舒適度和準確性的個(gè)性化要求 - 直至全自動(dòng)測量解決方案。 



產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: 三維激光掃描儀 工業(yè) 工廠(chǎng) 不銹鋼 傳輸
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