赫爾納供應德國PN Detector電子探測器

赫爾納供應德國PN Detector電子探測器

赫爾納貿易優(yōu)勢供應,德國總部直接采購，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品，為您提供一對一好的解決方案，貨期穩定。

公司簡(jiǎn)介：

PNDetector 是一家探測器制造商，其產(chǎn)品用于微量分析、質(zhì)量和材料科學(xué)。該公司成立于 2007 年，位于慕尼黑的西門(mén)子技術(shù)園區。我們的設施包括我們自己的硅傳感器生產(chǎn)線(xiàn)以及包裝和鑒定區域。PNDetector 的重點(diǎn)是用于 X 射線(xiàn)和電子能譜和成像的標準和探測器，例如pin 二極管、硅漂移探測器 (SDD)和pnCCD。

PN Detector電子探測器主要產(chǎn)品：

PN Detector電子探測器

PN Detector電子探測器產(chǎn)品型號：

STD-BSD-80-4-1-20

STEM-22-4-3-BF15

PN Detector電子探測器產(chǎn)品特點(diǎn)：

低至3 pF/通道的低傳感器電容可實(shí)現高速成像并支低噪聲特性

涵蓋0.5 keV至 300 keV的一次能量范圍

信號快速上升時(shí)間低至10 納秒

幾何收集效率達 65%，可實(shí)現高的信號強度和對比度

PN Detector電子探測器產(chǎn)品應用：

PN Detector電子探測器PNDetector的標準BSD是用于電子檢測的高速環(huán)形分段p-i-n二極管.其主要應用是掃描電子顯微鏡(SEM)中的背散射電子(BSE)檢測。設計優(yōu)化了在掃描電鏡極片下實(shí)現，結合了高速和高電子收集效率的優(yōu)點(diǎn)，但在陶瓷復合襯底上的BSD二極管可用于需要快速電子檢測的場(chǎng)合。

PN Detector電子探測器簡(jiǎn)單性和高光譜精度這就是我們用于標準應用的基礎 SDD 所帶來(lái)的優(yōu)勢。各種探測器模塊的能量分辨率值為 127 eV FWHM @ Mn-Kα，且操作簡(jiǎn)單，且。它們覆蓋的活動(dòng)區域范圍為 5 mm 2至 30 mm 2。

PN Detector電子探測器高光譜精度，能量分辨率值低至125 eV FWHM @ Mn-Kα，低光譜背景，P/B 值達20 000，P/V 值達 4 000，使在很短的處理時(shí)間內也具有好的能量分辨率，是對于我們的液滴形 SD3 探測器，我們的 SDD plus探測器還可提供大的活動(dòng)區域，測器模塊均配有鈹窗或超薄聚合物窗 (UTW) 和平面薄窗 (PTW)，用于輕元素檢測PNDetector 的彩色 X 射線(xiàn)相機 (CXC) 提供具有空間分辨率和光譜分辨率的圖像。PN Detector電子探測器我們的相機可實(shí)現達 1000Hz 幀速率的高速測量，并在軟 X 射線(xiàn)領(lǐng)域具有出色的光譜性能。數據以完整的原始數據集以及方便的數據立方體的形式提供，其中保存了每個(gè)單獨像素的完整 X 射線(xiàn)光譜。PN Detector電子探測器該相機系統可應用于科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域，例如材料分析、地質(zhì)學(xué)、藝術(shù)和考古學(xué)。PN Detector電子探測器用于 SEM 和 TEM 中掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 的電子探測器掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 是一種流行技術(shù)，可應用于 SEM 和 TEM 中的各種樣品。PN Detector電子探測器電子以低于入射光束會(huì )聚角（明場(chǎng)，BF）的角度透射穿過(guò)樣品后被檢測到，電子以高散射角（環(huán)形暗場(chǎng)，ADF）或高的散射角（高角度環(huán)形暗場(chǎng)，HAADF）傳播。

PN Detector電子探測器PNDetector 的環(huán)形 STEM 探測器基于厚度為 450 μm的pin 二極管。這將信號電容值小化至幾個(gè) pF，這是實(shí)現高檢測器速度和低噪聲水平的。 與我們的獨立 4 通道前置放大器組合成一個(gè)完整的探測器模塊。PN Detector電子探測器該前置放大器尺寸緊湊，為 33 mm x 29 mm x 5.5 mm，適用于 BSD 二極管周?chē)臻g有限的應用。它配備了兩根柔性引線(xiàn)電纜，可從一側連接到我們的標準 BSD，并從另一側連接到主放大器。